












測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度

新聞資訊
News時間:11-27 2025 來自:祥宇精密
在現代制造業中,精密測量技術的應用越來越廣泛。無論是金屬零件還是非金屬材料,都需要精確的尺寸控制來確保產品質量。塑膠外殼作為電子產品中常見的組件之一,其尺寸精度直接影響到產品的裝配和性能。
祥宇影像測量儀是一種集光學、機械、電子、計算機技術于一體的高精度測量設備。它通過CCD攝像機捕捉被測物體的圖像,再利用專業的測量軟件進行分析和計算,從而實現對物體尺寸的精確測量。相比傳統的接觸式測量方法,影像測量儀具有非接觸、速度快、精度高等優點,特別適用于復雜形狀和微小尺寸的測量。
塑膠外殼通常具有以下特點:
因此,塑膠外殼的測量需要具備以下幾點:
非接觸測量:祥宇影像測量儀采用光學成像原理,無需與被測物體接觸,避免了因接觸導致的變形和損傷,特別適合測量柔軟的塑膠材料。
高精度:祥宇影像測量儀配備了高分辨率的CCD攝像機和專業的測量軟件,能夠實現亞微米級的測量精度,完全滿足塑膠外殼的尺寸要求。
快速高效:影像測量儀可以在短時間內完成對復雜形狀的測量,大大提高了生產效率。同時,測量數據可以自動保存和分析,方便后續的質量控制和改進。
多功能性:除了基本的尺寸測量,祥宇影像測量儀還可以進行形位公差、輪廓度、圓度等多種參數的測量,全面滿足塑膠外殼的檢測需求。
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